喜获发明专利

2022.09.02 中国矿业报   

　　“一种适用于X射线荧光分析玻璃熔片法的样品前处理方法”发明专利，近日获国家知识产权局授权。该专利由中国地质调查局西安地质调查中心王烨等人撰写申报。

　　该发明属于X射线荧光光谱分析技术领域，公开了一种适用于X射线荧光分析玻璃熔片法的样品前处理方法。该发明是在现有的国标GB/T14506.28-2010方法基础上，增加了样品前处理技术，从而可以将X射线荧光光谱技术扩大使用在矿石样品的分析，或者存在非氧化态金属的未知试样中；对于分析一些有机碳和硫化物含量高的样品时，该技术不但保护了铂金坩埚，还扩大了国标的使用范围，使得一些手工样品可以用仪器测量，分析速度快，试样加工相对简单、分析精度高，安全环保。

　　目前，中国地调局西安地调中心采用该项技术已累计测试实际样品2万余件，大大节约了检测工作的人力与时间成本，提高了工作效率，具有可广泛应用于地质实验测试工作中的实际意义。　　（孟新军）

推荐阅读

{{panelTitle}}

  • 头像
    头像
    {{comment.username || '匿名'}}
    {{ new Date(comment.createTime.replace(/-/g, '/')).format('yyyy-MM-dd') }}
    • {{ childComment.username || '匿名' }}：
      • 查看更多
暂无评论，快来抢占沙发！